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由于增材制造的重要性日益提高，顆粒分析變得越來越重要，導致工業(yè)制造商對產品的質量要求更嚴格。除了產量大化外，制造商還需要確保其工藝始終可以提供具有適當尺寸和形態(tài)的顆粒。

在本篇文章中，將討論如何使用 Nebula™ 顆粒分散器實現顆粒均勻分散，并且可以使用飛納電鏡的顆粒統計分析測量系統分析顆粒。

分散粉末樣品的原因

為了確保顆粒分析的準確性，不僅需要分離單個顆粒，而且還要分離附著物。圖 1 顯示了將粉末樣品直接添加到碳導電膠上和使用 Nebula™ 顆粒分散器之間的區(qū)別。

圖1：將粉末樣品直接涂覆到碳導電膠（左）和使用 Nebula™ 顆粒分散器（右）之間的掃描電鏡圖比較。

Nebula™ 顆粒分散器進行樣品制備

Nebula™ 的使用步驟如下圖所示。 在開始之前，操作者移除圓柱并取出樣品臺（通常由鋁制成）。先在樣品臺上粘貼多孔碳導電膠（a），再將樣品臺放置在 Nebula™ 基座上（b）。蓋上圓柱，打開真空閥（c），使真空倉內的壓力迅速降低。

操作者可以通過觀察壓力計，調節(jié)倉內的真空度（d）。一旦真空處于正確的水平，關閉真空閥（e）并將樣品放在真空倉的頂部（f）。向下按壓杠桿釋放真空（g），使空氣流入倉內。 一旦倉內的氣壓與環(huán)境一致，就可以移除真空倉，并進行成像（h）和分析（i）。

分散粉末后需要做什么呢

當樣品中的顆粒均勻分散后，就可以使用掃描電鏡（SEM）開始分析樣品。飛納電鏡的顆粒統計分析測量系統是專門為顆粒分析設計的。該軟件可以幫助用戶根據不同參數（如直徑，圓度或灰度）來分析顆粒。 通過數據中的異常值，用戶可以使用 EDX 進行元素分析，從而獲得更好的解決方案。