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樣品制備:如何分散粉末以獲得優(yōu)異的掃描電鏡圖像

 更新時間:2019-02-28 點擊量:4627

由于增材制造的重要性日益提高,顆粒分析變得越來越重要,導致工業(yè)制造商對產品的質量要求更嚴格。除了產量大化外,制造商還需要確保其工藝始終可以提供具有適當尺寸和形態(tài)的顆粒。

 

在本篇文章中,將討論如何使用 Nebula™ 顆粒分散器實現顆粒均勻分散,并且可以使用飛納電鏡的顆粒統計分析測量系統分析顆粒。

 

分散粉末樣品的原因

 

為了確保顆粒分析的準確性,不僅需要分離單個顆粒,而且還要分離附著物。圖 1 顯示了將粉末樣品直接添加到碳導電膠上和使用 Nebula™ 顆粒分散器之間的區(qū)別。

 

圖1:將粉末樣品直接涂覆到碳導電膠(左)和使用 Nebula™ 顆粒分散器(右)之間的掃描電鏡圖比較。

 

Nebula™ 顆粒分散器進行樣品制備

 

Nebula™ 的使用步驟如下圖所示。 在開始之前,操作者移除圓柱并取出樣品臺(通常由鋁制成)。先在樣品臺上粘貼多孔碳導電膠(a),再將樣品臺放置在 Nebula™ 基座上(b)。蓋上圓柱,打開真空閥(c),使真空倉內的壓力迅速降低。

 

操作者可以通過觀察壓力計,調節(jié)倉內的真空度(d)。一旦真空處于正確的水平,關閉真空閥(e)并將樣品放在真空倉的頂部(f)。向下按壓杠桿釋放真空(g),使空氣流入倉內。 一旦倉內的氣壓與環(huán)境一致,就可以移除真空倉,并進行成像(h)和分析(i)。

 

 

分散粉末后需要做什么呢

 

當樣品中的顆粒均勻分散后,就可以使用掃描電鏡(SEM)開始分析樣品。飛納電鏡的顆粒統計分析測量系統是專門為顆粒分析設計的。該軟件可以幫助用戶根據不同參數(如直徑,圓度或灰度)來分析顆粒。 通過數據中的異常值,用戶可以使用 EDX 進行元素分析,從而獲得更好的解決方案。

 

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